区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
行业标准《区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法》，主管部门为工业和信息化部。
目录
1标准状态
- 发布于2018-01-01
- 执行于2017-07-07
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- YS/T 602-2017
- 发布日期
- 2017-07-07
- 实施日期
- 2018-01-01
- 全部代替标准
- YS/T 602-2007
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 主管部门
- 工业和信息化部
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：59466-2017。
备案公告： 2017年第9号 。
4相近标准（计划）
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法- GB/T 11446.4-2013 电子级水电阻率的测试方法
- GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
- JB/T 12074-2014 复合金属材料成分的测定 电子探针法
- 20100033-T-339 防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法
- GB/T 6146-2010 精密电阻合金电阻率测试方法
- SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试通用技术条件
- GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
- GB/T 34520.6-2017 连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率
- GB/T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
