锗单晶电阻率直流四探针测量方法
Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe
国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 南京中锗科技股份有限公司 、北京国晶辉红外光学科技有限公司 、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 。
主要起草人 张莉萍 、焦欣文 、王学武 、普世坤 。
目录
1标准状态
- 发布于2011-01-10
- 执行于2011-10-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 26074-2010
- 发布日期
- 2011-01-10
- 实施日期
- 2011-10-01
- 中国标准分类号
- H17
- 国际标准分类号
- 77.040.99
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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