半导体发光二极管芯片测试方法
行业标准《半导体发光二极管芯片测试方法》由中国电子技术标准化研究所归口上报，主管部门为工业和信息化部。
主要起草单位 中国光学光电子行业协会光电器件分会 、厦门华联电子有限公司等 。
主要起草人 鲍超 、胡爱华等 。
目录
1标准状态
- 发布于2010-01-01
- 执行于2009-11-17
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- SJ/T 11399-2009
- 发布日期
- 2009-11-17
- 实施日期
- 2010-01-01
- 中国标准分类号
- L45
- 归口单位
- 中国电子技术标准化研究所
- 主管部门
- 工业和信息化部
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：26875-2010。
备案公告： 2010年第1号 。
4起草单位
5起草人
6相近标准（计划）
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