非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
行业标准《非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法》由全国有色金属标准化技术委员会归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。
主要起草单位 有研半导体材料股份有限公司 。
主要起草人 孙燕 、卢立延等 。
目录
1标准状态
- 发布于2008-09-01
- 执行于2008-03-12
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- YS/T 679-2008
- 发布日期
- 2008-03-12
- 实施日期
- 2008-09-01
- 中国标准分类号
- H80
- 归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家发展和改革委员会
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：23480-2008。
备案公告： 2008年第5号 。
4起草单位
5起草人
6相近标准（计划）
DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法- 20151793-T-469 非本征半导体材料导电类型测试方法
- GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
- GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
- SN/T 2714-2010 冷轧不锈钢板（带）表面光反射率测试方法
- GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- 20120940-T-491 稳态条件下半导体器件的温度湿度偏置寿命测试方法
- SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
- SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
- GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
