非本征半导体材料导电类型测试方法
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
国家标准计划《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 乐山市产品质量监督检验所 、中国计量科学研究院 、广州市昆德科技有限公司 、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司 、浙江海纳半导体有限公司 、新特能源股份有限公司 、江苏中能硅业科技发展有限公司 、峨嵋半导体材料研究所 、洛阳中硅高科技有限公司 、中锗科技有限公司 、云南冶金云芯硅材股份有限公司 、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 、北京合能阳光新能源技术有限公司 。
主要起草人 梁洪 、王莹 、赵晓斌 、高英 、王昕 、王飞尧 、黄黎 、徐红骞 、邱艳梅 、刘晓霞 、杨旭 、张园园 、刘新军 、徐远志 、程小娟 、潘金平 、肖宗杰 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20151793-T-469
- 制修订
- 修订
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2015-08-18
- 全部代替标准
- GB/T 1550-1997
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
-
乐山市产品质量监督检验所
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广州市昆德科技有限公司
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浙江海纳半导体有限公司
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江苏中能硅业科技发展有限公司
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洛阳中硅高科技有限公司
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云南冶金云芯硅材股份有限公司
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北京合能阳光新能源技术有限公司
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中国计量科学研究院
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瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
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新特能源股份有限公司
-
峨嵋半导体材料研究所
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中锗科技有限公司
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江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
4投票情况
- 投票日期
- 2018-04-23~2018-05-07
- 通过率
- 100.00%
5相近标准（计划）
- GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
- GB/T 14264-2009 半导体材料术语
- 20151789-T-469 半导体材料牌号表示方法
- GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
- GB/T 31469-2015 半导体材料切削液
- 20130022-T-469 制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备
- GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
- GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法
- SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
