Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
国家标准《通信用光电子器件可靠性试验方法》由339-2(工业和信息化部(通信))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(通信)。
主要起草单位 武汉烽火科技集团有限公司 、中兴通讯股份有限公司 、中国信息通信研究院 、深圳新飞通光电子技术有限公司 。
主要起草人 赵先明 、宋梦洋 、江毅 、龚雪 、罗勇 、邓智芳 、杨春 、武成宾 、赵文玉 、陈悦 。
YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
20162480-T-339 半导体器件 分立器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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20180209-T-339 半导体器件 第5-6部分:光电子器件-发光二极管
GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
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