半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 华禹光谷股份有限公司半导体厂 。
目录
1标准状态
- 发布于2003-11-24
- 执行于2004-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 15651.3-2003
- 发布日期
- 2003-11-24
- 实施日期
- 2004-08-01
- 中国标准分类号
- L50
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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