半导体器件 第5-6部分：光电子器件-发光二极管
Semiconductor Devices–Part 5-6: Optoelectronic Devices – Light Emitting Diodes
国家标准计划《半导体器件 第5-6部分：光电子器件-发光二极管》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、深圳市标准技术研究院 、国家半导体器件质量监督检验中心 、中国电子技术标准化研究院 、晶能光电（江西）有限公司 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20180209-T-339
- 制修订
- 制订
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2018-03-20
- 国际标准分类号
- 31.080.99
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-6:2016。
采标中文名称:半导体器件 第5-6部分：光电子器件-发光二极管。
5相近标准（计划）
20130005-T-339 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范- 20130006-T-339 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
- 20130007-T-339 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
- SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
- GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
- SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
- GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
- 20162480-T-339 半导体器件 分立器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器
- SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
- SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
