薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 北京科技大学 。
主要起草人 柳得橹 。
目录
1标准状态
- 发布于2006-12-25
- 执行于2007-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 20724-2006
- 发布日期
- 2006-12-25
- 实施日期
- 2007-08-01
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
20161348-T-306 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测定方法- GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- DB44/T 653-2009 南珠珍珠层厚度的测定方法
- GB/T 5753-2013 钢丝绳芯输送带 总厚度和覆盖层厚度的测定方法
- GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
- YS/T 785-2012 NaA型沸石相对结晶度测定方法 X衍射法
- SJ/T 10226-1991 电子工业用硅酸钾溶液密度的测定方法
- SJ/T 10227-1991 电子工业用硅酸钾溶液粘度的测定方法
- 20161679-T-610 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
- GB/T 33051-2016 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法
