Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
国家标准《微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 北京科技大学 、北京航空材料研究院 、宝钢集团中央研究院 。
主要起草人 柳得橹 、娄艳芝 、柏明卓 。
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