双折射晶体和偏振器件测试规范
Measurement specification for birefractance crystal and polarizer
国家标准《双折射晶体和偏振器件测试规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国计量科学院 。
目录
1标准状态
- 发布于1993-02-06
- 执行于1993-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 14077-1993
- 发布日期
- 1993-02-06
- 实施日期
- 1993-08-01
- 中国标准分类号
- N05
- 国际标准分类号
- 17.180.20
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射测量方法- GB/T 29421-2012 钒酸盐双折射光学单晶元件
- GB/T 7962.5-2010 无色光学玻璃测试方法 第5部分：应力双折射
- JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率测量方法
- GB/T 16863-1997 晶体折射率的试验方法
- YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
- GB/T 28609-2012 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 双折射测定方法
- FZ/T 01057.9-2012 纺织纤维鉴别试验方法 第9部分：双折射率法
- 20173471-T-609 单轴晶光学晶体的折射率测量方法
- 20061346-T-339 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
