首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法
行业标准《首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法》，主管部门为工业和信息化部。
目录
1标准状态
- 发布于2017-07-01
- 执行于2017-01-09
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- QB/T 1134-2017
- 发布日期
- 2017-01-09
- 实施日期
- 2017-07-01
- 全部代替标准
- QB/T 1134-1991
- 中国标准分类号
- Y88
- 国际标准分类号
- 39.060
- 主管部门
- 工业和信息化部
- 行业分类
- 制造业
3备案信息
备案号：57125-2017。
备案公告： 2017年第3号 。
4相近标准（计划）
QB/T 1133-2017 首饰 金覆盖层厚度的测定 光谱法- QB 1131-2005 首饰 金覆盖层厚度的规定
- QB 1132-2005 首饰 银覆盖层厚度的规定
- QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
- GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
- JB/T 5068-1991 金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法
- GB/T 11378-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 轮廓仪法
- GB/T 4956-2003 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法
- GB/T 5753-2013 钢丝绳芯输送带 总厚度和覆盖层厚度的测定方法
- GB/T 4957-2003 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法
