首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
行业标准《首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法》由全国首饰标准化技术委员会归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。
主要起草单位 国家首饰质量监督检验中心 。
主要起草人 范积芳 、李素青等 。
目录
1标准状态
- 发布于2006-12-01
- 执行于2006-08-19
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- QB/T 1135-2006
- 发布日期
- 2006-08-19
- 实施日期
- 2006-12-01
- 全部代替标准
- QB/T 1135-1991
- 中国标准分类号
- Y88
- 归口单位
- 全国首饰标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家发展和改革委员会
- 行业分类
- 无
3备案信息
备案号：18368-2006。
备案公告： 2006年第10号 。
4起草单位
5起草人
6相近标准（计划）
QB/T 1134-2017 首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法- QB/T 1133-2017 首饰 金覆盖层厚度的测定 光谱法
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- QB 1132-2005 首饰 银覆盖层厚度的规定
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