半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part5: Steady-state temperature humidity bias life test
国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 。
主要起草人 吴维丽 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20130106-T-339
- 制修订
- 制订
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2013-08-01
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：60749-5:2003。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验。
5投票情况
- 投票日期
- 2018-05-09~2018-05-21
- 通过率
- 82.76%
6相近标准（计划）
20120940-T-491 稳态条件下半导体器件的温度湿度偏置寿命测试方法- 20130107-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:高温贮存
- 20132215-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
- 20141823-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
- GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
- GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
- 20141817-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
- 20130105-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
- 20141816-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度
- 20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
