用原子力显微镜测定纳米薄膜厚度的方法
Standard Test Method for Determination of Nano Coatings Thickness by Atomic Force Microscopy
国家标准计划《用原子力显微镜测定纳米薄膜厚度的方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
主要起草单位 上海交通大学微纳科学技术研究院 、纳米技术及应用国家工程研究中心 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20091793-T-491
- 制修订
- 制订
- 项目周期
- 36个月
- 下达日期
- 2009-12-15
- 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
3起草单位
4相近标准（计划）
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法- 20131701-T-469 利用原子力显微镜测定纳米颗粒粒径大小的标准方法
- 20078466-T-491 纳米技术 纳米药物颗粒结构与局域电导测量 原子力显微镜法
- GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
- GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
- GB/T 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术
- GB/T 32262-2015 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法
- JB/T 7398.13-1994 显微镜 生物显微镜用检验标本片
- GB/T 22058-2008 显微镜 体视显微镜的标志
