Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
国家标准《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国科学院。
主要起草单位 国家纳米科学中心 。
主要起草人 朱晓阳 、杨延莲 、贺蒙 、高洁 。
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