纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
国家标准《纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
主要起草单位 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 。
主要起草人 陈一峰 、陈小刚 、宋志棠 。
目录
1标准状态
- 发布于2017-05-12
- 执行于2017-12-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 33657-2017
- 发布日期
- 2017-05-12
- 实施日期
- 2017-12-01
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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