微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
国家标准《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 北京科技大学 。
主要起草人 柳得橹 、郜欣 、权茂华 。
目录
1标准状态
- 发布于2017-07-12
- 执行于2018-06-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 34002-2017
- 发布日期
- 2017-07-12
- 实施日期
- 2018-06-01
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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