工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

国家标准推荐性现行

国家标准《工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。

主要起草人刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅等。

刘英波赵德平杨毅杨海岸周杰