General specification test methods for semiconductor device curve tracers
国家标准《半导体管特性图示仪通用规范》由TC153(全国电子测量仪器标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 上海新建仪器设备有限公司 。
主要起草人 吴宗苏 、徐正江 、朱佩华 、徐长风 、俞见逸 。
JY/T 0006-2011 晶体管特性图示仪
SJ/T 10400-1993 半导体音响电路图示均衡电路测试方法的基本原理
20064065-T-339 半导体器件 第7部分:双极型晶体管
20061346-T-339 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
20150512-T-469 电气简图用图形符号 第5部分:半导体管和电子管
GB/T 4728.5-2005 电气简图用图形符号 第5部分:半导体管和电子管
GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
JB/T 6307.4-1992 电力半导体模块测试方法双极型晶体管臂和臂对
SJ/T 10416-1993 半导体分立器件芯片总规范