General rules for nanometer-scale length measurement by SEM
国家标准《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 中国科学院地质与地球物理研究所 、同济大学 、中国科学院化学所 、中国地质科学院矿产资源研究所 、上海理工大学 。
主要起草人 张训彪 、曾荣树 、廖宗廷 、卢德生等 。
GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 31563-2015 金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法
20161679-T-610 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
DB44/T 1527-2015 微束分析 扫描电镜 图像清晰度评价方法
SN/T 3009-2011 金属表面海水腐蚀扫描电镜鉴定方法
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GB/T 27788-2011 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则