General rules for measurement of length in micron scale by SEM
国家标准《微米级长度的扫描电镜测量方法通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 上海理工大学 、上海元宝能源技术有限公司 、同济大学 、上海市计量测试技术研究院 、中国船舶重工集团公司第725研究所 。
主要起草人 张训彪 、邓保庆 、卢德生 、丁臻敏 、刘悦 、高文华等 。
GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
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