表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心 。
主要起草人 马农农 、何友琴 、何秀坤 。
目录
1标准状态
- 发布于2008-12-11
- 执行于2009-10-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 22572-2008
- 发布日期
- 2008-12-11
- 实施日期
- 2009-10-01
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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