半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
国家标准《半导体集成电路 电平转换器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 深圳市国微电子有限公司 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 、工业和信息化部电子第五研究所 、成都振芯科技股份有限公司 。
主要起草人 宦承永 、邬海忠 、陆坚 、魏军 、王小强 、罗彬 。
目录
1标准状态
- 发布于2018-03-15
- 执行于2018-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 35006-2018
- 发布日期
- 2018-03-15
- 实施日期
- 2018-08-01
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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