半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

国家标准推荐性即将实施

国家标准《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。

主要起草人陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科。

陈雁罗彬李锟蔡志刚郭超王会影邬海忠钟科