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电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies

国家标准 推荐性 即将实施

国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265(全国超导标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国科学院。

主要起草单位 电子科技大学清华大学南京大学中国科学院物理研究所

主要起草人 曾成罗正祥补世荣魏斌吉争鸣孙亮

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