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半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere

国家标准计划 制订 推荐性

国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所北京大学微电子研究院无锡必创传感科技有限公司

主要起草人 张艳杰彭浩李树杰岳振鹏崔波高金环裴选张天福迟雷张威陈得民周刚

目录

1项目进度

  • 网上公示
  • 起草
  • 征求意见
  • 审查
  • 批准
  • 发布

2基础信息

计划号
20132215-T-339
制修订
制订
项目周期
12个月
下达日期
2014-01-26
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

3起草单位

4采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-13:2002。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾。

5相近标准(计划)

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