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表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

国家标准 推荐性 现行

国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心

主要起草人 马农农何友琴何秀坤

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