电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forchemical durability
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 上海无线电一厂 。
1标准状态
- 发布于1985-11-27
- 执行于1986-12-01
- 废止于2016-01-01
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5594.6-1985
- 发布日期
- 1985-11-27
- 实施日期
- 1986-12-01
- 废止日期
- 2016-01-01
- 中国标准分类号
- L32
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法- GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
- GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
- GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
- GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
- GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法
- GB/T 15489.7-1995 滤光玻璃测试方法 化学稳定性
- GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
