电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、中国电子技术标准化研究院 、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司 。
主要起草人 江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。
目录
1标准状态
- 发布于2015-05-15
- 执行于2016-01-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5594.8-2015
- 发布日期
- 2015-05-15
- 实施日期
- 2016-01-01
- 全部代替标准
- GB/T 5594.8-1985
- 中国标准分类号
- L90
- 国际标准分类号
- 31-030
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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