电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 上海科技大学 。
1标准状态
- 发布于1985-11-27
- 执行于1986-12-01
- 废止于2016-01-01
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5594.8-1985
- 发布日期
- 1985-11-27
- 实施日期
- 1986-12-01
- 废止日期
- 2016-01-01
- 中国标准分类号
- L32
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法- GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
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- GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
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