超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
地方标准《超高频射频识别(RFID)芯片测试方法》由广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）归口上报，主管部门为广东省质量技术监督局。
主要起草单位 中山达华智能科技股份有限公司 、电子科技大学 、广州市标准化研究院 、电子科技大学中山学院 、中山职业技术学院 、中山大学花都产业科技研究院 、东莞市中电云华信息技术有限公司 。
主要起草人 文光俊 、李建 、蒋晖 、赵文强 、王耀 、徐永键 、徐广健 、陆许明 、罗国章 、程文彬 、冷小冰 、闫胜利 、万其明 、王伟 。
目录
1标准状态
- 发布于2016-09-29
- 执行于2016-12-29
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- DB44/T 1905-2016
- 发布日期
- 2016-09-29
- 实施日期
- 2016-12-29
- 中国标准分类号
- L80
- 国际标准分类号
- 35.040
- 归口单位
- 广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）
- 主管部门
- 广东省质量技术监督局
- 行业分类
- 制造业
3备案信息
备案号：52766-2017。
备案公告： 2017年第3号 。
4适用范围
超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试
5起草单位
6起草人
7相近标准（计划）
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