硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
地方标准《硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法》由中国科学院福建物质结构研究所归口上报，主管部门为福建省质量技术监督局。
主要起草单位 中国科学院福建物质结构研究所 。
主要起草人 黄丰 、吕佩文 、陈伦泰 、王永好 、林璋 、黄瑾 。
目录
1标准状态
- 发布于2011-04-10
- 执行于2011-07-10
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- DB35/T 1146-2011
- 发布日期
- 2011-04-10
- 实施日期
- 2011-07-10
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
- 归口单位
- 中国科学院福建物质结构研究所
- 主管部门
- 福建省质量技术监督局
- 行业分类
- 科学研究和技术服务业
3备案信息
备案号：32194-2012。
备案公告： 2012年第1号 。
4适用范围
本标准规定了测定硅材料中杂质元素含量的辉光放电质谱法（G D M S )所涉及的术语和定义、原理、试剂与材料、仪器设备、样品要求、样品要求、分析步骤、结果计算、允许偏差。 本标准适用于纯度不高于99.99999%的硅材料中的杂质元素L i、Be、B、N a、M g、A 1、P、K、T h、U等元素的测定
5起草单位
6起草人
7相近标准（计划）
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