半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1：Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures
国家标准计划《半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所 、中国电子技术标准化研究院 。
主要起草人 冯玲玲 、陈裕焜 、雷剑 、王琪 、王婷婷 、管松林 。
目录
1项目进度
- 网上公示
- 起草
- 征求意见
- 审查
- 批准
- 发布
2基础信息
- 计划号
- 20061679-T-339
- 制修订
- 修订
- 项目周期
- 36个月
- 下达日期
- 2005-12-30
- 全部代替标准
- GB/T 13062-1991
- 中国标准分类号
- L57
- 国际标准分类号
- 31.200
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC60748-21-1：1997。
采标中文名称:半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)。
5相近标准（计划）
20062822-T-339 半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)- GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
- GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
- GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
- GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
- GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
- GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
- GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
