纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method
国家标准《纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
主要起草单位 国家纳米科学中心 、北京粉体技术协会 。
主要起草人 齐笑迎 、常怀秋 、朱晓阳 、贺蒙 、高原 。
目录
1标准状态
- 发布于2017-11-01
- 执行于2018-05-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 34831-2017
- 发布日期
- 2017-11-01
- 实施日期
- 2018-05-01
- 中国标准分类号
- N33
- 国际标准分类号
- 17.180.01;37.020
- 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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