太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

国家标准推荐性现行

国家标准《太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心。

主要起草人徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰等。

徐自亮任皓孙燕熊金杰陈佳洵李锐