带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
国家标准《带电粒子半导体探测器测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 中核（北京）核仪器厂 。
主要起草人 李志勇 、王军 。
目录
1标准状态
- 发布于2012-06-29
- 执行于2012-11-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 5201-2012
- 发布日期
- 2012-06-29
- 实施日期
- 2012-11-01
- 全部代替标准
- GB/T 5201-1994
- 中国标准分类号
- F88
- 国际标准分类号
- 27.120
- 归口单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法- GB/T 19629-2005 医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
- 20154194-Q-312 电气火灾监控系统 第5部分：测量热解粒子式电气火灾监控探测器
- GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
- SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
- SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
- SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
- SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
- SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
