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半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

国家标准 推荐性 现行

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。

主要起草人 李丽霞 、陈海蓉 、崔波 。

目录

1标准状态

  • 发布于2012-11-05
  • 执行于2013-02-15
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 4937.4-2012
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部（电子）

3起草单位

4起草人

李丽霞 陈海蓉 崔波

5相近标准（计划）

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