用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies
国家标准《用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 江苏中能硅业科技发展有限公司 、新特能源股份有限公司 、天津市环欧半导体材料技术有限公司 、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司 、洛阳中硅高科技有限公司 。
主要起草人 王桃霞 、刘晓霞 、耿全荣 、鲁文锋 、柳德发 、胡伟 、邱艳梅 、银波 、由佰玲 、秦榕 、严大洲 。
目录
1标准状态
- 发布于2017-12-29
- 执行于2018-07-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 35309-2017
- 发布日期
- 2017-12-29
- 实施日期
- 2018-07-01
- 中国标准分类号
- H17
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
江苏中能硅业科技发展有限公司