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微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

国家标准 推荐性 现行

国家标准《微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 北京科技大学北京航空材料研究院宝钢集团中央研究院

主要起草人 柳得橹娄艳芝柏明卓

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