红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所 。
主要起草人 丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。
目录
1标准状态
- 发布于2013-11-12
- 执行于2014-04-15
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 17444-2013
- 发布日期
- 2013-11-12
- 实施日期
- 2014-04-15
- 全部代替标准
- GB/T 17444-1998
- 中国标准分类号
- L52
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
3起草单位
4起草人
5相近标准（计划）
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