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表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction

国家标准 推荐性 现行

国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 北京师范大学分析测试中心 。

主要起草人 吴正龙 。

目录

1标准状态

  • 发布于2010-09-26
  • 执行于2011-08-01
  • 废止于

2基础信息

标准号
GB/T 25185-2010
发布日期
2010-09-26
实施日期
2011-08-01
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

3起草单位

4起草人

吴正龙

5相近标准（计划）

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