多探针测试台通用技术条件
General specification for probe tester
国家标准《多探针测试台通用技术条件》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 平凉半导体专用设备研究所 。
目录
1标准状态
- 发布于1994-12-28
- 执行于1995-08-01
- 废止于
2基础信息
- 标准号
- GB/T 15394-1994
- 发布日期
- 1994-12-28
- 实施日期
- 1995-08-01
- 中国标准分类号
- L97
- 国际标准分类号
- 31.240
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
平凉半导体专用设备研究所