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半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

国家标准 推荐性 现行

国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 华禹光谷股份有限公司半导体厂

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